Miembros VIP
Molino de iones im4000ii
El modelo estándar del molino de iones Hitachi im4000ii puede realizar molienda transversal y molienda plana. También se puede moler la sección transv
Detalles del producto
Molino de iones im4000ii
El modelo estándar del molino de iones Hitachi im4000ii puede realizar molienda transversal y molienda plana. También se puede moler la sección transversal de diferentes muestras a través de diversas funciones de selección, como el control de baja temperatura y la transferencia al vacío.
-
Características
-
Selección de elementos
-
Especificaciones
Características
Molienda de sección transversal de alta eficiencia
El im4000ii está equipado con una capacidad de molienda de sección transversal de 500 micras por H* 1La pistola de iones de alta eficiencia anterior. Por lo tanto, incluso los materiales duros pueden preparar muestras de sección transversal de manera eficiente.
- * 1
- A una tensión de aceleración de 6 kv, la placa si sobresale 100 micras del borde del deflector y se mecaniza a una profundidad máxima de 1 hora.
Muestra: hoja de si (2 mm de espesor)
Tensión de aceleración: 6,0 KV
ángulo de oscilación: + 30 °
Tiempo de molienda: 1 hora
Si el ángulo de oscilación cambia al moler la sección, el ancho y la profundidad del procesamiento también cambiarán. La siguiente imagen muestra los resultados de la molienda de sección transversal de la placa si con un ángulo de oscilación de ± 15 °. Otras condiciones, excepto el ángulo de oscilación, son consistentes con las condiciones de procesamiento anteriores. Al comparar con los resultados anteriores, se puede encontrar que la profundidad del procesamiento se profundiza.
Para las muestras en las que el objetivo de observación se encuentra en las profundidades, se puede moler la muestra en una sección transversal más rápida.
Muestra: hoja de si (2 mm de espesor)
Tensión de aceleración: 6,0 KV
ángulo de oscilación: + 15 °
Tiempo de molienda: 1 hora
Molino compuesto
Molienda de sección transversal
- Incluso los materiales compuestos compuestos compuestos por diferentes dureza y materiales de velocidad de molienda pueden preparar superficies de molienda lisas a través del im4000ii.
- Optimizar las condiciones de procesamiento y reducir el daño de las muestras causado por haces de iones
- Se pueden cargar muestras de un máximo de 20 mm (w) × 12 mm (d) × 7 mm (h)
Uso principal de la molienda de sección transversal
- Preparación de secciones transversales de metales y muestras de materiales compuestos y polímeros
- Preparación de secciones transversales de muestras que contienen lugares específicos como grietas y huecos
- Preparación de secciones transversales de muestras de varias capas y tratamiento previo para el análisis de ebsd de muestras
Molienda plana
- Mecanizado uniforme en un rango de aproximadamente 5 mm de diámetro
- Amplia gama de campos de aplicación
- Se pueden cargar muestras con un diámetro máximo de 50 mm x una altura de 25 mm
- Se pueden seleccionar dos métodos de procesamiento de rotación y Oscilación (+ 60 grados, + 90 grados de oscilación)
Uso principal de la molienda plana
- Eliminar pequeños arañazos y deformaciones que son difíciles de eliminar en el molienda mecánica
- Eliminación de la parte superficial de la muestra
- Eliminación de la capa de daño causada por el procesamiento FIB
Selección de elementos
Función de control de baja temperatura* 1
El nitrógeno líquido se carga en un tanque de Dewar para enfriar indirectamente la muestra como fuente de enfriamiento. El im4000ii está equipado con una función de control de regulación de temperatura para evitar el sobreenfriamiento de muestras de resina y caucho.
- * 1 debe ordenarse al mismo tiempo que el host.
Molienda a temperatura ambiente
Enfriamiento y molienda (- 100 ° c)
- Muestra: reducir el material de aislamiento funcional (en papel) utilizado en plásticos
Función de transferencia al vacío
Las muestras procesadas por molienda de iones se pueden transferir directamente al Sem sin contacto con el aire.* 1、 AFM* 2Arriba. La función de transferencia de vacío y la función de control de baja temperatura se pueden utilizar simultáneamente. (la función de transferencia de vacío de molienda plana no es adecuada para la función de control de baja temperatura).
- * 1 solo admite Hitachi fe - SEM con almacén de intercambio de transferencia al vacío
- * 2 solo admite el tipo de vacío Hitachi afm.
Microscopio de tipo para observar el proceso de procesamiento
La imagen de la derecha muestra un microscopio de tipo utilizado para observar el proceso de procesamiento de la muestra. El microscopio estereoscópico equipado con una cámara CC puede observarse en la pantalla. También se puede configurar un microscopio binocular.
Especificaciones
| Contenido principal | |
|---|---|
| Uso de gas | Argón |
| Modo de control del flujo de argón | Control de flujo de masa |
| Tensión de aceleración | 0.0 ～ 6.0 kV |
| Tamaño | 616 (w) × 736 (d) × 312 (h) mm |
| Peso | Motor principal 53 kg + bomba mecánica 30 kg |
| Molienda de sección transversal | |
| Velocidad máxima de molienda (material si) | 500 micras / h* 1Arriba |
| Tamaño máximo de la muestra | 20 (w) × 12 (d) × 7 (h) mm |
| Rango de movimiento de la muestra | X ± 7 mm, y 0 ~ + 3 mm |
| Función de procesamiento intermitente de haces de iones Rango de configuración de tiempo de apertura / cierre |
1 segundo a 59 minutos y 59 segundos |
| ángulo de oscilación | ± 15 °, ± 30 °, ± 40 ° |
| Función de molienda de sección transversal de área amplia | - - |
| Molienda plana | |
| Alcance máximo de procesamiento | φ32 mm |
| Tamaño máximo de la muestra | Φ50 X 25 (H) mm |
| Rango de movimiento de la muestra | X 0～＋5 mm |
| Función de procesamiento intermitente de haces de iones Rango de configuración de tiempo de apertura / cierre |
1 segundo a 59 minutos y 59 segundos |
| Velocidad de rotación | 1 rpm、25 rpm |
| ángulo de oscilación | ± 60 °, ± 90 ° |
| ángulo de inclinación | 0 a 90 grados |
- * 1 sobresale la placa si de 100 micras del borde del deflector y mecaniza a una profundidad de 1 hora.
Selección de elementos
| Proyecto | Contenido |
|---|---|
| Función de control de baja temperatura* 2 | Enfriamiento indirecto de la muestra por nitrógeno líquido, rango de ajuste de temperatura: 0 ° C ~ - 100 ° C |
| Placa de bloqueo súper dura | El tiempo de uso es aproximadamente el doble que el deflector estándar (sin cobalto) |
| Microscopio para la observación del proceso de procesamiento | Ampliación 15 × ~ ~ 100 × tipo binocular, tipo Triplete (se puede instalar con cld) |
- * 2 debe ordenarse al mismo tiempo que el host. Cuando se utiliza la función de control de temperatura de enfriamiento, algunas funciones pueden usarse de manera limitada.
Clasificación de productos relacionados
- Microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo (fe - sem)
- Microscopio electrónico de barrido (sem)
- Microscopía electrónica de transmisión (tem / stem)
Consulta en línea
-
Contactos
-
Empresa
-
Teléfono
-
Correo electrónico
-
Wechat
-
Código de verificación
-
Contenido del mensaje
-